Ключевые слова: HTS, YBCO, thin films, patterning, nanoscaled effects, ion irradiation, defects, substrate single crystal, PLD process, resistivity, resistance, anisotropy, microstructure
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.